服務(wu)熱線
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產(chan)品中(zhong)心(xin)
當前位(wei)置(zhi):首頁(ye)
產(chan)品中(zhong)心(xin)
測試儀
直(zhi)讀(du)光譜(pu)儀(yi)
SPECTROMAXx直讀(du)光譜(pu)儀(yi)

產(chan)品型(xing)號(hao):
更(geng)新(xin)時(shi)間:2025-02-26
廠(chang)商性(xing)質(zhi):經(jing)銷(xiao)商
訪問(wen)量(liang):499
服務(wu)熱線15986658242
產(chan)品分(fen)類(lei)
SPECTROMAXx直讀(du)光譜(pu)儀(yi)基於原(yuan)子(zi)發(fa)射光譜(pu)的(de)原理(li)工(gong)作(zuo)。當樣(yang)品被(bei)激(ji)發(fa)源(如(ru)電(dian)弧、火花或(huo)激光)激(ji)發(fa)時,其(qi)組成元(yuan)素(su)的(de)原(yuan)子會被激(ji)發(fa)到高(gao)能級(ji)。當這(zhe)些原(yuan)子從高(gao)能級(ji)返(fan)回到(dao)低能(neng)級時(shi),會發(fa)射出(chu)特定波長(chang)的光,這(zhe)些光的(de)波長(chang)與元(yuan)素(su)的類(lei)型有(you)關。通(tong)過(guo)檢測和(he)分析(xi)這(zhe)些特(te)定波長(chang)的光,就(jiu)可以確定樣品中(zhong)各元(yuan)素的(de)種類(lei)和(he)含(han)量(liang)。
SPECTROMAXx直(zhi)讀(du)光譜(pu)儀(yi)技術資料(liao)
model D: 233 -670 nm ( Benchtop Model )
model F:1 60-670 nm ( Benchtop & Floor Model )
model M: 140-670 nm ( Benchtop & Floor Model )
波長(chang)範圍:
選(xuan)購(gou)配(pei)備:小(xiao)樣品線材(cai)夾
多(duo)模組高解析(xi)度(du)CCD偵(zhen)測器
溫度(du)自(zi)動(dong)控(kong)制(zhi)及補償
自(zi)我(wo)光路(lu)校(xiao)正
Paschen-Runge架(jia)設法溫度(du)穩定結構(gou)
光學系(xi)統:
樣品面板易(yi)拆(chai)裝清理及(ji)更(geng)換
樣品夾(jia)操作(zuo)便利(li)
激發(fa)臺(tai):
電(dian)子(zi)電(dian)路(lu)放電控(kong)制(zhi)系(xi)統多樣(yang)性(xing)放(fang)電(dian)
參(can)數可供(gong)不(bu)同基材(cai)選(xuan)擇放(fang)電(dian)參(can)數可
由個(ge)別(bie)分析(xi)程式(shi)設定
激發(fa)系(xi)統:
Plasma current: 1-80 A,Spark frequency : 1-600 Hz,Spark length: 10- 1000ms
外接(jie)式(shi)電(dian)腦(nao),Windows操作(zuo)系(xi)統
螢幕、鍵盤(pan)、滑(hua)鼠、列(lie)表(biao)機(ji)
電腦(nao)系(xi)統:
操作(zuo)容易(yi)和(he)校正(zheng)用的SPECTRO SPARK ANALYZER MX
連(lian)續(xu)的自(zi)動(dong)硬體(ti)偵(zhen)測程式(shi)
自(zi)動(dong)合金(jin)鎰別(bie)
根據(ju)樣(yang)品的(de)化學成份(fen)應(ying)用,用戶(hu)公(gong)式(shi)設定自(zi)動(dong)計算(suan)數值(zhi)
軟(ruan)體(ti):
桌(zhuo)上(shang)型(xing) ( Benchtop Model):長(chang)740 X 寬600 X 高(gao)460mm、重(zhong)量約(yue) 60Kg
落(luo)地(di)型(xing) ( Floor Model) :長(chang) 740 X 寬600 X 高(gao)1370mm、重(zhong)量約(yue) 120Kg
尺(chi)寸規格:
230/115V +10%/-15% 50 或(huo) 60HZ
分析(xi)時(shi)最大功(gong)率(lv) 400VA~16A 慢熔保(bao)險絲
上(shang)壹(yi)個(ge):漏電(dian)起痕(hen)測(ce)試儀
返回(hui)列(lie)表(biao)
下壹(yi)個(ge):LH-20ST金(jin)相(xiang)切割機(ji)