科研(yan)級(ji)三目(mu)正置金相(xiang)顯(xian)微鏡(jing)LH-71S配(pei)有大(da)範(fan)圍移(yi)動的(de)載(zai)物臺、柯拉(la)落(luo)射(she)照(zhao)明系(xi)統(tong)、長(chang)距(ju)平(ping)場物鏡(jing)、大(da)視野目(mu)鏡(jing)，圖(tu)像(xiang)清(qing)晰、襯(chen)度好(hao)，同時配(pei)有偏光(guang)裝(zhuang)置，可(ke)實(shi)現偏光(guang)觀(guan)察(cha)。適(shi)用(yong)於(yu)薄片試(shi)樣(yang)的(de)金(jin)相、礦(kuang)相(xiang)、巖(yan)相(xiang)、晶體等結構分(fen)析和鑒別(bie)，電子芯(xin)片的檢查或(huo)用(yong)於(yu)觀察(cha)材(cai)料(liao)表(biao)面(mian)特性，如(ru):劃(hua)痕、裂(lie)紋(wen)、噴塗(tu)的(de)均(jun)勻性等(deng)及紡(fang)織纖(xian)維、化(hua)學顆(ke)粒的(de)分(fen)析研(yan)究(jiu)。是(shi)生物(wu)學、金(jin)屬(shu)學、礦(kuang)物(wu)學、精(jing)密工(gong)程學、電子學等(deng)研(yan)究(jiu)的(de)理(li)想(xiang)儀(yi)器。

科研(yan)級(ji)三目(mu)正置金相(xiang)顯(xian)微鏡(jing)LH-71S配(pei)有大(da)範(fan)圍移(yi)動的(de)載(zai)物臺、柯拉(la)落(luo)射(she)照(zhao)明系(xi)統(tong)、長(chang)距(ju)平(ping)場物鏡(jing)、大(da)視野目(mu)鏡(jing)，圖(tu)像(xiang)清(qing)晰、襯(chen)度好(hao)，同時配(pei)有偏光(guang)裝(zhuang)置，可(ke)實(shi)現偏光(guang)觀(guan)察(cha)。適(shi)用(yong)於(yu)薄片試(shi)樣(yang)的(de)金(jin)相、礦(kuang)相(xiang)、巖(yan)相(xiang)、晶體等結構分(fen)析和鑒別(bie)，電子芯(xin)片的檢查或(huo)用(yong)於(yu)觀察(cha)材(cai)料(liao)表(biao)面(mian)特性，如(ru):劃(hua)痕、裂(lie)紋(wen)、噴塗(tu)的(de)均(jun)勻性等(deng)及紡(fang)織纖(xian)維、化(hua)學顆(ke)粒的(de)分(fen)析研(yan)究(jiu)。是(shi)生物(wu)學、金(jin)屬(shu)學、礦(kuang)物(wu)學、精(jing)密工(gong)程學、電子學等(deng)研(yan)究(jiu)的(de)理(li)想(xiang)儀(yi)器。總(zong)放(fang)大(da)倍數(shu): 50X- -800X。

主(zhu)要特點(dian)

• 正(zheng)置設計：物鏡(jing)位於(yu)樣品(pin)上方，適(shi)合觀(guan)察(cha)小型或(huo)薄片樣品。

• 三目(mu)鏡(jing)筒：支(zhi)持(chi)雙目(mu)觀察(cha)和第三目(mu)連接攝(she)像(xiang)頭(tou)，便於(yu)圖(tu)像(xiang)采(cai)集和記錄。

• 高(gao)分(fen)辨率(lv)：采(cai)用(yong)優(you)質光學鏡(jing)片和照明系(xi)統(tong)，成(cheng)像(xiang)清(qing)晰，細節(jie)表現(xian)力(li)強(qiang)。

• 多功能性(xing)：支(zhi)持(chi)明場、暗(an)場、偏光(guang)、微分(fen)幹涉（DIC）等(deng)多種觀察(cha)模(mo)式(shi)。

• 科研(yan)級(ji)性(xing)能(neng)：高(gao)精(jing)度光學系(xi)統(tong)和穩定(ding)的(de)機械(xie)結構，滿足(zu)科研(yan)需(xu)求(qiu)。

主(zhu)要組成(cheng)部分(fen)

• 光(guang)學系(xi)統(tong)：包括物(wu)鏡(jing)、目(mu)鏡(jing)和聚光(guang)鏡(jing)，提供(gong)高(gao)清(qing)晰度的圖(tu)像(xiang)。

• 三目(mu)鏡(jing)筒：兩個(ge)目(mu)鏡(jing)用(yong)於(yu)觀察(cha)，壹(yi)個(ge)目(mu)鏡(jing)用(yong)於(yu)連接攝(she)像(xiang)頭(tou)或(huo)相機。

• 物(wu)鏡(jing)轉換器：支(zhi)持(chi)多物鏡(jing)切換，通常(chang)配(pei)置5X、10X、20X、50X、100X等(deng)物(wu)鏡(jing)。

• 載(zai)物臺：機械(xie)式(shi)或(huo)電動式(shi)載物(wu)臺(tai)，可(ke)精(jing)確(que)移(yi)動樣(yang)品(pin)。

• 照(zhao)明系(xi)統(tong)：反射(she)光(guang)照(zhao)明，支(zhi)持(chi)明場、暗(an)場等觀察(cha)模(mo)式(shi)。

• 調(tiao)焦(jiao)系(xi)統(tong)：粗(cu)調(tiao)和微調(tiao)旋鈕，用(yong)於(yu)精確(que)聚(ju)焦。

• 攝(she)像(xiang)頭(tou)接口：支(zhi)持(chi)連接數(shu)碼相(xiang)機或(huo)攝(she)像(xiang)頭(tou)，進(jin)行圖(tu)像(xiang)采(cai)集和分(fen)析。

產(chan)品應(ying)用(yong)

1、分(fen)析金(jin)屬(shu)、礦(kuang)相(xiang)內(nei)部結構組織。

2、電子廠PCB板(ban)、芯(xin)片檢驗。

3、觀(guan)察(cha)材(cai)料(liao)表(biao)面(mian)的某些特性，如(ru):劃(hua)痕、裂(lie)紋(wen)、噴塗(tu)的(de)均(jun)勻性。

科研(yan)級(ji)三目(mu)正置金相(xiang)顯(xian)微鏡(jing)詳細參(can)數(shu)